内置投影卡片DC 尼康S1000pj功能测试评测(7)—

内置投影卡片DC 尼康S1000pj功能测试评测(7)

2009年09月18日 11:00　来源：天极网　

尼康S1000pj畸变测试

广角端畸变测试

　　S205EXR广角端的畸变数值为4.5%，有比较明显的枕型畸变。而长焦端的畸变数值为-0.405%，完全可以忽略不计。这次畸变测试得到的结果比较奇怪，S1000pj广角端呈现的是枕型畸变，而不是通常的桶型畸变，这点在拍摄时需注意。而S1000pj的长焦端则完全没有畸变方面的影响，可放心使用。

长焦端畸变测试

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